Si കമ്പോസിറ്റ് സബ്സ്ട്രേറ്റുകളിൽ N-Type SiC Dia6inch
等级ഗ്രേഡ് | യു 级 | P级 | D级 |
കുറഞ്ഞ BPD ഗ്രേഡ് | പ്രൊഡക്ഷൻ ഗ്രേഡ് | ഡമ്മി ഗ്രേഡ് | |
直径വ്യാസം | 150.0 മിമി ± 0.25 മിമി | ||
厚度കനം | 500 μm±25μm | ||
晶片方向വേഫർ ഓറിയൻ്റേഷൻ | ഓഫ് അക്ഷം : 4.0° നേരെ < 11-20 > ±0.5° for 4H-N ഓൺ ആക്സിസ് : <0001>±0.5° for 4H-SI | ||
主定位边方向പ്രാഥമിക ഫ്ലാറ്റ് | {10-10}±5.0° | ||
主定位边长度പ്രാഥമിക ഫ്ലാറ്റ് നീളം | 47.5 mm± 2.5 mm | ||
边缘എഡ്ജ് ഒഴിവാക്കൽ | 3 മി.മീ | ||
总厚度变化/弯曲度/翘曲度 ടിടിവി/ബോ /വാർപ്പ് | ≤15μm /≤40μm /≤60μm | ||
微管密度和基面位错MPD&BPD | MPD≤1 cm-2 | MPD≤5 cm-2 | MPD≤15 cm-2 |
BPD≤1000cm-2 | |||
电阻率പ്രതിരോധശേഷി | ≥1E5 Ω·cm | ||
表面粗糙度പരുഷത | പോളിഷ് Ra≤1 nm | ||
CMP Ra≤0.5 nm | |||
裂纹(强光灯观测) # | ഒന്നുമില്ല | ക്യുമുലേറ്റീവ് നീളം ≤10mm, ഒറ്റ നീളം≤2mm | |
ഉയർന്ന തീവ്രതയുള്ള പ്രകാശത്താൽ വിള്ളലുകൾ | |||
六方空洞(强光灯观测)* | ക്യുമുലേറ്റീവ് ഏരിയ ≤1% | ക്യുമുലേറ്റീവ് ഏരിയ ≤5% | |
ഉയർന്ന തീവ്രതയുള്ള പ്രകാശത്താൽ ഹെക്സ് പ്ലേറ്റുകൾ | |||
多型(强光灯观测)* | ഒന്നുമില്ല | ക്യുമുലേറ്റീവ് ഏരിയ≤5% | |
ഉയർന്ന തീവ്രത പ്രകാശം കൊണ്ട് പോളിടൈപ്പ് ഏരിയകൾ | |||
划痕(强光灯观测)*& | 3 പോറലുകൾ മുതൽ 1×വേഫർ വ്യാസം വരെ | 5 പോറലുകൾ മുതൽ 1×വേഫർ വ്യാസം വരെ | |
ഉയർന്ന തീവ്രതയുള്ള പ്രകാശത്താൽ പോറലുകൾ | സഞ്ചിത നീളം | സഞ്ചിത നീളം | |
崩边# എഡ്ജ് ചിപ്പ് | ഒന്നുമില്ല | 5 അനുവദനീയമാണ്, ≤1 മില്ലിമീറ്റർ വീതം | |
表面污染物(强光灯观测) | ഒന്നുമില്ല | ||
ഉയർന്ന തീവ്രതയുള്ള പ്രകാശത്തിൻ്റെ മലിനീകരണം |